如何使用三坐標(biāo)測量設(shè)備Rational DMIS軟件測量斜孔

在使用三坐標(biāo)測量設(shè)備測量圓時(shí)，生成圓元素的測量點(diǎn)需要平行于“工作平面”或“投影平面進(jìn)行計(jì)算”，同樣的測點(diǎn)投影到不同的平面上，得到的特征也不一樣，不正確的工作平面會(huì)影響測量結(jié)果的測針補(bǔ)償半徑，部分測量元素的矢量方向等。

當(dāng)需要測量的圓特征不在當(dāng)前坐標(biāo)系平面上時(shí)，需要指定正確的投影平面（工作平面）以保證測量的準(zhǔn)確性。 

圖：當(dāng)前工作平面為工件頂部的XY平面（Z+）,需要測量的圓測針卻不在該工作平面上。

本文介紹三種三坐標(biāo)測量設(shè)備Rational DMIS軟件測量斜孔的方法，希望能對您有所幫助。

 工作平面法 

方法一：使用工作平面

在三坐標(biāo)測量設(shè)備Rational DMIS軟件界面上，工作平面窗口接受從元素?cái)?shù)據(jù)區(qū)拖放平面元素，當(dāng)一個(gè)平面元素被用作工作平面后，平面方向就會(huì)被用作圓擬合方向。

1） 測量圓所在的平面(PLN1)（綠色部分）

2）拖放平面(PLN1)至“工作平面”窗口和“投影面”那么，測量后就會(huì)產(chǎn)生兩個(gè)圓，一個(gè)實(shí)測圓（ CIR1 ）和一個(gè)投影圓（ CIR_PROJ1 ）

坐標(biāo)系法

方法二：使用坐標(biāo)系平面

如果斜孔與某一端面垂直， 即可測量圓所在的端面（PLN1）建立找正坐標(biāo)系。

點(diǎn)擊在三坐標(biāo)測量設(shè)備測量軟件工作平面右邊的下拉框選擇對應(yīng)的工作平面，選擇“最靠近的CRD”平面，

由軟件自動(dòng)判斷工作平面（注：CRD為構(gòu)建激活的坐標(biāo)系）。

向量創(chuàng)建

方法三：向量創(chuàng)建測量（采樣例點(diǎn)）

向量創(chuàng)建測量時(shí)（采樣例點(diǎn)），不需要提前選取工作平面，它是直接測量一個(gè)“臨時(shí)平面”，

用這個(gè)平面作為工作平面。

1)     點(diǎn)擊工作平面按鈕切換至向量創(chuàng)建，（自動(dòng)測量時(shí)，需要設(shè)置采樣距離）

按照提示，在圓所在的端面上采點(diǎn)，每采一個(gè)點(diǎn)，點(diǎn)的顏色由紅變綠，未測量的點(diǎn)的顏色是藍(lán)色。

2)向量點(diǎn)完成后圖形區(qū)會(huì)顯示一個(gè)綠色的面，表示工作平面（投影面）所在的位置，然后繼續(xù)測量圓即可。 

注意

在使用三坐標(biāo)測量設(shè)備測量圓時(shí)，測點(diǎn)的矢量方向與測針方向是兩回事，在進(jìn)行斜孔測量時(shí)，無論測桿的方向是在哪里，只要測點(diǎn)不打滑，測針與零件不干涉就可。選擇適當(dāng)?shù)臏y針角度即可，不要求測針方向一定垂直于斜面手動(dòng)測量生成程序后，再次執(zhí)行程序，這時(shí)，測量的矢量方向都是法向方向。