三坐標(biāo)知識(shí)| 接觸式測(cè)頭與光學(xué)測(cè)頭有何不同

對(duì)于三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)來說，測(cè)頭之間并無絕對(duì)優(yōu)劣之分。不同測(cè)頭的適用場(chǎng)景并不一樣，而在其適用環(huán)境下該測(cè)頭就能發(fā)揮更大作用。同樣的，光學(xué)側(cè)頭和接觸式測(cè)頭也是如此。

使用光學(xué)式測(cè)頭后得出的結(jié)果能與CAD模型做對(duì)比，獲取零件整體/局部輪廓的偏差等等。但在一些特殊工件，比如一些微小軟等不適宜進(jìn)行接觸測(cè)量工件，光學(xué)式測(cè)頭要優(yōu)于接觸式測(cè)頭。同時(shí)在測(cè)量效率方面，光學(xué)式測(cè)頭也要由于接觸式測(cè)頭，更適合進(jìn)行大批量高效測(cè)量。

接觸式測(cè)頭在測(cè)量特定位置的三維曲線時(shí)，比如在測(cè)量透平葉片時(shí)，可能會(huì)存在半徑補(bǔ)償余弦誤差或?qū)嶋H測(cè)點(diǎn)位置出現(xiàn)偏差的情況。而非接觸式測(cè)頭能很好地回避這一問題。因?yàn)樗侵苯永霉恻c(diǎn)的反射信號(hào)來獲取被測(cè)點(diǎn)的坐標(biāo)，不存在半徑補(bǔ)償?shù)沫h(huán)節(jié)，因此能夠完全杜絕余弦誤差產(chǎn)生的源頭。同時(shí)，葉片也是較為輕薄的工件，用接觸式測(cè)頭測(cè)量可能會(huì)使工件變形而對(duì)測(cè)量結(jié)果產(chǎn)生影響，進(jìn)而產(chǎn)生測(cè)量偏差等。

需要做三維測(cè)量時(shí)，單獨(dú)的光學(xué)測(cè)頭就難以進(jìn)行測(cè)量任務(wù)。需要進(jìn)行測(cè)量時(shí)，往往需要配合接觸式測(cè)頭一起，由接觸式測(cè)頭負(fù)責(zé)建立測(cè)量基準(zhǔn)進(jìn)行。光學(xué)測(cè)頭雖然有一些接觸式測(cè)頭無法提供的優(yōu)勢(shì)，但在需要L型測(cè)針的場(chǎng)合或進(jìn)行如徑深比很小的孔測(cè)量時(shí)，接觸式測(cè)頭要更適用。

在實(shí)際測(cè)量中，我們要分析好自己的使用場(chǎng)景，選擇正確的測(cè)頭。除了測(cè)頭之外，三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的性能、售后服務(wù)等也很重要。思瑞三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)憑借出眾的性價(jià)比，周到的售后維護(hù)獲得越來越多用戶的信賴與認(rèn)可。